赫爾納供應德國formfactor探測系統CM300xi

赫爾納供應德國formfactor探測系統CM300xi

赫爾納供應德國formfactor探測系統CM300xi

赫爾納貿易優勢供應,德國總部直接采購，近30年進口工業品經驗,原裝產品，為您提供一對一好的解決方案，貨期穩定。

公司簡介：

FormFactor, Inc. (納斯達克代碼：FORM) 是整個 IC 周期內測試和測量技術的提供商——從特性描述、建模和設計調試到認證和生產測試。

formfactor探測系統主要產品：

formfactor探測系統

Formfactor探針

formfactor探測系統產品型號：

CM300xi

PA210

formfactor探測系統產品特點：

全溫度范圍：-60°C 至 +300°C

與 TopHat 或IceShield兼容

在 EMI 屏蔽環境中使用手動和電動器、探針卡

在很寬的溫度范圍內實現穩定且可重復的測量

formfactor探測系統產品應用：

formfactor探測系統為其150 毫米探針臺引入了新的模塊化概念。這將使您能夠以令人難以置信的價格配置當前和需求的探針解決方案。需選擇一個基站并根據需要添加數量的特定于應用程序的入門套件。formfactor探測系統同軸電纜 – 低至 pA 級的直流參數測試可移動壓板，高度調節范圍為 40 毫米，接觸/分離行程為 200 微米，重復精度為 ± 1 微米，卡盤臺具有可調節摩擦力和臺鎖， Z 卡盤調節和 90 毫米拉出功能，磁定位器具有 1 μm 特征分辨率和 3 個線性軸，配有精密滾珠軸承

formfactor探測系統MPS150 三同軸，Triax – 低噪聲測量至 fA 級。CM300xi 探針臺可應對復雜環境帶來的測量，例如長時間在多個溫度下對小型焊盤進行測試。在 EMI 屏蔽、不透光和無濕氣的測試環境中，可為各種應用實現的測量性能。formfactor探測系統熱管理增強功能和實驗室自動化功能可提高產量并加快數據獲取速度。對于低溫測試，FormFactor 的開放式 IceShield™ 環境也可用于 CM300xi。

CM300xi 支持 Contact Intelligence™ – 這是一種技術，可實現自主半導體測試。新系統設計與圖像處理的組合提供了獨立于操作員的解決方案，可在時間和溫度下獲得測量數據。

formfactor探測系統CM300xi 探針臺配備物料處理單元，將全自動晶圓測試與精度相結合。該系統可處理 50 個 SEMI 標準晶圓盒中的 200 或 300 毫米晶圓。

formfactor探測系統可選的 ReAlign™ 功能可以獨立于主 eVue 顯微鏡執行“離軸"探針到焊盤的對準。ReAlign 是探針卡的工具，它不允許從上方查看焊盤和探針。ReAlign 硬件包括 2 個附加攝像頭：向下看的“壓板攝像頭"直接集成到 CM300xi 的壓板中，用于觀察焊盤；向上看的“ChuckView 攝像頭"用于表征探針。Realign 向導允許使用預定義算法設置不同的探針卡，立體顯微鏡：放大倍數為 15 倍至 100 倍，視野寬闊，配有可連接相機。formfactor探測系統MPS150分析與設計調試，MPS150 高功率，晶圓上功率器件特性分析，多用途 SIGMA 儀器集成套件，帶保護罩的三同軸探頭，多種分析儀的無縫集成，帶表面涂層的三軸卡盤，適用于達 3 kV 的低泄漏測量，具有高隔離度，formfactor探測系統以低的接觸電阻進行達 100 A 的大電流測量，可選至 10 kV（同軸）工作電壓，晶圓處理能力，電弧保護和接地概念，帶聯鎖裝置的屏蔽外殼，適用于 EMI/防光環境，為用戶和設備提供程度的高壓電擊保護。